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       主要特點(diǎn): 無(wú)摩擦主軸，試驗力精度高；高精度光學(xué)測量系統，精密坐標試臺；試驗過(guò)程自動(dòng)化，操作簡(jiǎn)單，無(wú)人為操作誤差；可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗；可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統；精度符合GB/T4340.2 ISO 6507-2和美國ASTM E384。
       應用范圍: 滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件；碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測量；適用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密維氏測量。
主要技術(shù)規格:
       標準配置: 座標試臺:1個(gè); 細軸試臺:1個(gè); 薄板試臺:1個(gè); 平鉗:1個(gè); 金剛石角錐壓頭:1只 ; 標準顯微硬度塊:2塊
       任選配置: 努普壓頭; CCD圖像處理系統

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